原理
Ｘ線の発生原理
結晶性物質に原子間距離と同程度の波長を持つX線を入射すると、各原子がX線を散乱します。この各散乱角に対して散乱強度を記録すると、その物質特有の散乱スペクトルが得られます。
回折角の位置・強度は結晶構造に特有で、回折図形から、主に無機化合物の同定ができます。
結晶中では分子が規則正しく配列しており、結晶にX線が当たると、並んだ分子によって回折されます。格子面間隔をdとするとX線の干渉は、
2dsinθ=λ （ブラッグの法則）
d: 結晶面の間隔, θ: 結晶面とX線が成す角度,
λ: X線の波長
の時に強めあい、他の場所では観測されません。
格子面から反射したX線を検出します。